از میان روش‌های سنجش خاصیت مغناطیسی مواد، روش VSM متداول‌ترین می‌باشد. این سیستم از یک ارتعاش‌ساز نسبتا قوی برای به ارتعاش در آوردن نمونه‌ی مورد اندازه‌گیری در یک میدان مغناطیسی یکنواختِ قابل‌کنترل بهره می‌برد. ارتعاش نمونه‌ی مغناطیسی باعث تغییرات شار مغناطیسی در پیچه‌های ثبت‌کننده در اطراف نمونه خواهد شد به نحوی که میزان تغییرات شار مغناطیسی (که با مغناطش نمونه متناسب است) توسط این پیچه‌ها به دقت اندازه‌گیری می‌شود. از سویی دیگر، با اندازه‌گیری خواص مغناطیسی نمونه در میدان‌های مغناطیسی مختلف در شرایط کنترل شده، می‌توان حلقه‌ی پسماند مواد مختلف را بدست آورد.
